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Readout of Low Temperature Detectors

Kempf, Sebastian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000125607
Veranstaltung Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2018), Heidelberg, Deutschland, 07.10.2018 – 09.10.2018
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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