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Measured quality factor and intermodulation product of CPW resonators on silicon substrates with 100 nm wide niobium lines at 17 GHz and 4.2 K

Wünsch, S.; Scherer, T.A.; Neuhaus, M.; Jutzi, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Poster
Publikationsmonat/-jahr 08.2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000125710
Veranstaltung 5th European Conference on Applied Superconductivity (EUCAS 2001), Lyngby, Dänemark, 26.08.2001 – 30.08.2001
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