Thickness dependence of zero-temperature penetration depth of niobium thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000125785 |
| Veranstaltung | Workshop "Kryoelektronische Bauelemente" (KRYO 2003), Blaubeuren, 05.10.2003 – 07.10.2003 |