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From Superconducting to Semiconducting YBCO Thin Film Bolometers: Sensitivity and Crosstalk Investigations for Future THz Imagers

Jagtap, V. S.; Scheuring, A. 1; Longhin, M.; Kreisler, A. J.; Degardin, A. F.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2009.2019285
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Zitationen: 10
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Zitationen: 11
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1051-8223, 1558-2515
KITopen-ID: 1000125792
Erschienen in IEEE transactions on applied superconductivity
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 19
Heft 3
Seiten 287–292
Nachgewiesen in Scopus
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