Planar defect formation in the $\gamma$′ phase during high temperature creep in single crystal CoNi-base superalloys
Eggeler, Yolita M.
; Müller, J.; Titus, M. S.; Suzuki, A.; Pollock, T. M.; Spiecker, E.
; Müller, J.; Titus, M. S.; Suzuki, A.; Pollock, T. M.; Spiecker, E.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1359-6454, 1873-2453 KITopen-ID: 1000125867 |
| Erschienen in | Acta materialia |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 113 |
| Seiten | 335–349 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |