Combining advanced TEM techniques for full characterization of extended defects in creep-deformed single crystal superalloys
Spiecker, Erdmann; Müller, Julian; Eggeler, Yolita M.
; Lenz, Malte
; Lenz, Malte
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 9783527808465 KITopen-ID: 1000125870 |
| Erschienen in | European Microscopy Congress 2016: Proceedings |
| Veranstaltung | 16th European Microscopy Congress (EMC 2016), Lyon, Frankreich, 28.08.2016 – 02.09.2016 |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Seiten | 780–781 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |