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Combining advanced TEM techniques for full characterization of extended defects in creep-deformed single crystal superalloys

Spiecker, Erdmann; Müller, Julian; Eggeler, Yolita M.; Lenz, Malte



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/9783527808465.EMC2016.8697
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 9783527808465
KITopen-ID: 1000125870
Erschienen in European Microscopy Congress 2016: Proceedings
Veranstaltung 16th European Microscopy Congress (EMC 2016), Lyon, Frankreich, 28.08.2016 – 02.09.2016
Verlag Wiley-VCH, Weinheim
Seiten 780–781
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