On the nucleation of planar faults during low temperature and high stress creep of single crystal Ni-base superalloys
Wu, X.; Dlouhy, A.; Eggeler, Yolita M.
; Spiecker, E.; Kostka, A.; Somsen, C.; Eggeler, G.
; Spiecker, E.; Kostka, A.; Somsen, C.; Eggeler, G.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1359-6454, 1873-2453 KITopen-ID: 1000125872 |
| Erschienen in | Acta materialia |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 144 |
| Seiten | 642–655 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |