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Characterisation of Misfit Dislocations at Semicoherent Interfaces in Biphasic Functional Heusler Intermetallics

Eggeler, Yolita; Levin, EE; Wang, F.; Seshadri, R.; Pollock, TM; Gianola, DS



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927619010316
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 1000125874
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 25
Heft S2
Seiten 1916–1917
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