Characterisation of Misfit Dislocations at Semicoherent Interfaces in Biphasic Functional Heusler Intermetallics
Eggeler, Yolita
; Levin, E. E.; Wang, F.
; Seshadri, R.; Pollock, T. M.; Gianola, D. S.
; Levin, E. E.; Wang, F.
; Seshadri, R.; Pollock, T. M.; Gianola, D. S.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1435-8115 KITopen-ID: 1000125874 |
| Erschienen in | Microscopy and microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 25 |
| Heft | S2 |
| Seiten | 1916–1917 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |