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Interfacial structure and strain accommodation in two-phase Nb Co$_{1.2}$ Sn Heusler intermetallics

Eggeler, Yolita M.; Levin, E. E.; Wang, F.; Kitchaev, D. A.; Van der Ven, A.; Seshadri, R.; Pollock, T. M.; Gianola, D. S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2475-9953, 2476-0455
KITopen-ID: 1000125879
Erschienen in Physical review materials
Band 4
Heft 9
Seiten Art.-Nr.: 093601
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