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Ontology-Enhanced Machine Learning : A Bosch Use Case of Welding Quality Monitoring

Svetashova, Yulia; Zhou, Baifan; Pychynski, Tim; Schmidt, Stefan; Sure-Vetter, York; Mikut, Ralf; Kharlamov, Evgeny



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-030-62466-8_33
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-030-62465-1
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
KITopen-ID: 1000125904
HGF-Programm 47.01.02 (POF III, LK 01) Biol.Netzwerke u.Synth.Regulat. IAI
Erschienen in The Semantic Web - ISWC 2020 : 19th International Semantic Web Conference, Athens, Greece, November 2–6, 2020, Proceedings, Part II. Ed.: J. Pan
Verlag Springer International Publishing
Seiten 531–550
Serie Lecture Notes in Computer Science ; 12507
Vorab online veröffentlicht am 01.11.2020
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