Traceable Lateral Force Calibration (TLFC) for Atomic Force Microscopy
Bhattacharjee, A.; Garabedian, Nikolay T.
1; Evans, C. L.; Burris, D. L.
1 Institut für Angewandte Materialien (IAM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Evans, C. L.; Burris, D. L.1 Institut für Angewandte Materialien (IAM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1023-8883, 1573-2711 KITopen-ID: 1000126010 |
| Erschienen in | Tribology letters |
| Verlag | Springer |
| Band | 68 |
| Heft | 4 |
| Seiten | Art.-Nr.: 111 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |