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Traceable Lateral Force Calibration (TLFC) for Atomic Force Microscopy

Bhattacharjee, A.; Garabedian, Nikolay T.; Evans, C. L.; Burris, D. L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1023-8883, 1573-2711
KITopen-ID: 1000126010
Erschienen in Tribology letters
Band 68
Heft 4
Seiten Art.-Nr.: 111
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