KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Traceable Lateral Force Calibration (TLFC) for Atomic Force Microscopy

Bhattacharjee, A.; Garabedian, Nikolay T.; Evans, C. L.; Burris, D. L.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s11249-020-01349-y
Scopus
Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1023-8883, 1573-2711
KITopen-ID: 1000126010
Erschienen in Tribology letters
Verlag Springer
Band 68
Heft 4
Seiten Art.-Nr.: 111
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page