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A large field-of-view high-resolution hard x-ray microscope using polymer optics

Qiao, Zhi; Shi, Xianbo; Kenesei, Peter; Last, Arndt; Assoufid, Lahsen; Islam, Zahir


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/5.0011961
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748, 1089-7623
KITopen-ID: 1000126148
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics
Erschienen in Review of scientific instruments
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 91
Heft 11
Seiten 113703
Schlagwörter Proposal-Nr.: 2019-021-025729, XRL
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