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Detection Efficiency and Cut-off Wavelength of NbN-SNSPD with Different Stoichiometry

Rall, D.; Toussaint, J.; Hofherr, M.; Wünsch, Stefan; Ilin, K.; Semenov, A.; Huebers, H.-W.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsdatum 05.08.2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000126200
Veranstaltung 14th International Workshop on Low Temperature Detectors (LTD 2011), Heidelberg, Deutschland, 01.08.2011 – 05.08.2011
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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