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Microwave and dc Properties of Niobium Coplanar Nanolines with 50 nm Linewidth on Silicon Substrates

Jutzi, W.; Wuensch, S.; Crocoll, E.; Neuhaus, M.; Scherer, T.A.; Weimann, T.; Niemeyer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Poster
Publikationsmonat/-jahr 09.2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000126250
Veranstaltung Applied Superconductivity Conference (ASC 2002), Houston, TX, USA, 04.08.2002 – 09.08.2002
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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