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Semiconducting vs superconducting YBCO thin film bolometers: sensitivity and crosstalk investigations for future far-infrared imagers

Jagtap, V.; Scheuring, A.; Longhin, M.; Testé, Ph.; Dégardin, A.F.; Kreisler, A.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000126266
Veranstaltung Applied Superconductivity Conference (ASC 2008), Chicago, IL, USA, 17.08.2008 – 22.08.2008
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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