Exploring a bayesian optimization framework compatible with digital standard flow for soft-error-tolerant circuit

Li, Y. ¹; Zeng, X.; Gao, Z.; Lin, L.; Tao, J.; Han, J.; Cheng, X.; Tahoori, Mehdi ¹; Zeng, X.
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/DAC18072.2020.9218696

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2020
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-4503-6725-7 ISSN: 0738-100X KITopen-ID: 1000126317
Erschienen in	2020 57th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 19-22 July 2020, online
Veranstaltung	57th Design Automation Conference (DAC 2020), Online, 19.07.2020 – 22.07.2020
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Bemerkung zur Veröffentlichung	Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus