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Exploring a bayesian optimization framework compatible with digital standard flow for soft-error-tolerant circuit

Li, Y.; Zeng, X.; Gao, Z.; Lin, L.; Tao, J.; Han, J.; Cheng, X.; Tahoori, Mehdi; Zeng, X.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/DAC18072.2020.9218696
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-6725-7
ISSN: 0738-100X
KITopen-ID: 1000126317
Erschienen in 2020 57th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 19-22 July 2020, online
Veranstaltung 57th Design Automation Conference (DAC 2020), Online, 19.07.2020 – 22.07.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Bemerkung zur Veröffentlichung Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt
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