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Temporale Phasenentfaltung für Phasenmessende 3D-Messtechnik mittels zirkulärer Statistik

Uhlig, David; Heizmann, Michael

Abstract:
In phasenmessenden 3D-Messverfahren wie Profilometrie und Deflektometrie werden häufig Multi-Frequenz-Verfahren mit temporal codierten Mustersequenzen eingesetzt, um die Messunsicherheit zu reduzieren. Hierbei entstehen jedoch Mehrdeutigkeiten. Wir stellen einen Ansatz vor, bei dem die Phase mithilfe einer probabilistischen Modellierung optimal rekonstruiert wird.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 10.08.2020
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1614-8436
KITopen-ID: 1000126332
Erschienen in DGaO-Proceedings
Heft A015
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