KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Measurement of Dielectric Losses in Thin Films at GHz Frequencies Using Superconducting Resonators

Kaiser, Ch.; Skacel, S.T.; Wünsch, S.; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsdatum 06.10.2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000126355
Veranstaltung Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2009), Oberhof, Deutschland, 04.10.2009 – 06.10.2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page