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Investigation of the interplay between characteristic figures of merit of Josephson tunnel junctions and the layer thickness distribution of the underlying trilayer

Edinger, Paul



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 14.08.2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000126472
Verlag Universität Heidelberg
Art der Arbeit Abschlussarbeit - Bachelor
Prüfungsdaten 14.08.2020 Heidelberg, Kirchhoff-Institut für Physik, Universität Heidelberg, Bachelorarbeit, 2020
Referent/Betreuer Kempf, Sebastian
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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