Investigation of the interplay between characteristic figures of merit of Josephson tunnel junctions and the layer thickness distribution of the underlying trilayer
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 14.08.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000126472 |
| Verlag | Universität Heidelberg |
| Art der Arbeit | Abschlussarbeit - Bachelor |
| Prüfungsdaten | 14.08.2020 Heidelberg, Kirchhoff-Institut für Physik, Universität Heidelberg, Bachelorarbeit, 2020 |
| Referent/Betreuer | Kempf Sebastian |