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Bestimmung der intrinsischen Kapazität von Nb/Al-AlOx/Nb-Tunnelkontakten

Deeg, Lukas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 28.09.2016
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000126522
Art der Arbeit Abschlussarbeit - Bachelor
Prüfungsdaten 28.09.2016 Heidelberg, Universität Heidelberg, Kirchhoff-Institut für Physik
Referent/Betreuer Sebastian Kempf, Christian Enss
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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