Charakterisierung und Beurteilung der Qualität von Nb/Al-AlOx/NbJosephson-TunnelKontakten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 23.07.2012 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000126525 |
| Art der Arbeit | Abschlussarbeit - Bachelor |
| Prüfungsdaten | 23.07.2012 Heidelberg, Universität Heidelberg, Kirchhoff-Institut für Physik |
| Referent/Betreuer | Kempf, Sebastian Enss, Christian |