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A hierarchical Bayesian model of the influence of run length on sequential predictions

Scheibehenne, Benjamin; Studer, Bettina

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.3758/s13423-013-0469-1
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Zitationen: 6
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Wirtschaftsinformatik und Marketing (IISM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1069-9384, 1531-5320
KITopen-ID: 1000126537
Erschienen in Psychonomic bulletin & review
Band 21
Heft 1
Seiten 211–217
Vorab online veröffentlicht am 09.07.2013
Nachgewiesen in Scopus
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