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Measurement of Dielectric Losses in Amorphous Thin Films at GHz Frequencies using Superconducting Resonators

Skacel, S.T.; Kaiser, Ch.; Wünsch, S.; Rotzinger, A.; Lukashenko, A.; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.; Bruno, A.; Lisitskiy, M.; Ustinov, A.V.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Poster
Publikationsmonat/-jahr 10.2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000126824
Veranstaltung Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2010), Zeuthen, Deutschland, 03.10.2010 – 05.10.2010
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