Measurement of Dielectric Losses in Amorphous Thin Films at GHz Frequencies using Superconducting Resonators
Skacel, S. T.; Kaiser, Ch.; Wünsch, S.
; Rotzinger, A.; Lukashenko, A.; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.; Bruno, A.; Lisitskiy, M.; Ustinov, A. V.; Siegel, M.
; Rotzinger, A.; Lukashenko, A.; Dolata, R.; Mackrodt, B.; Zorin, A.; Bruno, A.; Lisitskiy, M.; Ustinov, A. V.; Siegel, M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000126824 |
| Veranstaltung | Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2010), Zeuthen, Deutschland, 03.10.2010 – 05.10.2010 |