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HTS Multilagentechnologie für RSFQ-Basiszellen mit optimaler Bitfehlerrate

Cassel, D.; Ortlepp, T.; Ilin, K.; Pickartz, G.; Kuhlmann, B.; Dittmann, R.; Klushin, A.; Toepfer, H.; Siegel, M.; Uhlmann, F.H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsmonat/-jahr 10.2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000126844
Veranstaltung Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2002), Berlin, Deutschland, 20.10.2002
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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