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A Survey of Test and Reliability Solutions for Magnetic Random Access Memories [in press]

Girard, P.; Cheng, Y.; Virazel, A.; Zhao, W.; Bishnoi, R.; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/JPROC.2020.3029600
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9219, 1558-2256
KITopen-ID: 1000126960
Erschienen in Proceedings of the IEEE
Vorab online veröffentlicht am 27.10.2020
Nachgewiesen in Scopus
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