A Survey of Test and Reliability Solutions for Magnetic Random Access Memories
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0018-9219, 1558-2256 KITopen-ID: 1000126960 |
| Erschienen in | Proceedings of the IEEE |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 109 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 149 - 169 |
| Vorab online veröffentlicht am | 27.10.2020 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |