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Semantic ML for manufacturing monitoring at Bosch

Zhou, B.; Svetashova, Y.; Pychynski, T.; Kharlamov, E.

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000127041
Veröffentlicht am 27.12.2020
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1613-0073
KITopen-ID: 1000127041
Erschienen in CEUR workshop proceedings
Verlag CEUR Workshop Proceedings
Band 2721
Seiten 397-398
Bemerkung zur Veröffentlichung 19th International Semantic Web Conference on Demos and Industry Tracks: From Novel Ideas to Industrial Practice, ISWC-Posters 2020; Virtual, Online; ; 1 November 2020 through 6 November 2020
Nachgewiesen in Scopus
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