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Critical current of Nb and NbN thin-film structures: The cross-section dependence

Ilin, K.; Siegel, M.; Semenov, A.; Engel, A.; Hübers, H.-W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsmonat/-jahr 09.2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000127056
Veranstaltung European Materials Conference - E-MRS Fall Meeting (2004), Warschau, Polen, 06.09.2004 – 10.09.2004
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