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Static source code metrics and static analysis warnings for fine-grained just-in-time defect prediction

Trautsch, Alexander; Herbold, Steffen; Grabowski, Jens



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICSME46990.2020.00022
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 09.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72815-619-4
KITopen-ID: 1000127209
Erschienen in 2020 IEEE International Conference on Software Maintenance and Evolution : ICSME 2020 : 27 September - 3 October 2020, virtual event
Veranstaltung IEEE International Conference on Software Maintenance and Evolution (ICSME 2020), Online, 27.09.2020 – 03.10.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 127–138
Nachgewiesen in Scopus
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