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Measurement of Dielectric Losses in Amorphous Thin Films at GHz Frequencies Using Superconducting Resonators

Kaiser, Ch.; Skacel, Sebastian; Wünsch, Stefan ORCID iD icon; Dolata, Ralf; Mackrodt, B.; Zorin, A.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000127280
Erschienen in DPG Frühjahrstagung der Sektion Kondensierte Materie (SKM), Fachverband Tiefe Temperaturen, 21. - 26. März 2010, Regensburg, Deutschland
Veranstaltung DPG Frühjahrstagung der Sektion Kondensierte Materie - Fachverband Tiefe Temperaturen (SKM 2010), Regensburg, Deutschland, 21.03.2010 – 26.03.2010
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