Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1988 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000127323 |
Erschienen in | Proceedings of the 7th Symposium on Reliability in Electronics (RELECTRONIC '88) |
Veranstaltung | 7th Symposium on Reliability in Electronics (RELECTRONIC 1988), Budapest, Ungarn, 29.08.1988 – 02.09.1988 |
Verlag | OMIKK-Technoinform |
Seiten | 363-370 |