Influence of parasitic counts on the detection efficiency of superconducting nanowire single-photon detectors on GaAs

Schmidt, E.; Schwartz, M.; Herzog, T.; Ilin, K.; Jetter, M.; Michler, P.; Siegel, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp	Poster
Publikationsdatum	10.10.2016
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000127481
Veranstaltung	Workshop "Kryoelektronische Bauelemente" (KRYO 2016), Freyburg (Unstrut), Deutschland, 09.10.2016 – 11.10.2016