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Deep Learning for Software Defect Prediction – A Survey

Omri, Safa; Sinz, Carsten



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 06.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-7963-2
KITopen-ID: 1000127589
Erschienen in 2020 IEEE/ACM 42nd International Conference on Software Engineering Workshops : ICSEW 2020, Seoul, Republic of Korea 27 June -19 July 2020 : proceedings
Veranstaltung 42nd International Conference on Software Engineering Workshops (ICSE 2020), Online, 06.07.2020 – 11.07.2020
Verlag Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten 209–214
Bemerkung zur Veröffentlichung Konferenzdaten haben sich in der virtuellen Konferenz geändert
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