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Application of Machine Learning to XRD Phase Identification

Schützke, Jan; Jones, Brian; Henderson, Nathan; Rodesney, Nick; Benedix, Alexander; Knorr, Karsten; Mikut, Ralf; Reischl, Markus


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000127718
Veröffentlicht am 22.04.2021
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000127718
HGF-Programm 47.01.02 (POF III, LK 01) Biol.Netzwerke u.Synth.Regulat. IAI
Veranstaltung Denver X-Ray Conference (2020), Denver, CO, USA, 17.08.2020 – 20.08.2020
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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