Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsmonat/-jahr | 10.2016 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5090-1642-6 KITopen-ID: 1000128041 |
HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
Erschienen in | IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room-Temperature Semiconductor Detector Workshop (NSS/MIC/RTSD), 2016 |
Veranstaltung | IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room-Temperature Semiconductor Detector Workshop (NSS/MIC/RTSD 2016), Straßburg, Frankreich, 29.10.2016 – 06.11.2016 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | Article no: 8069901 |
Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |