Characterization of fully depleted CMOS active pixel sensors on high resistivity substrates for use in a high radiation environment
Hirono, Toko; Barbero, Marlon; Breugnon, Patrick; Godiot, Stephanie; Hemperek, Tomasz; Hugging, Fabian; Janssen, Jens; Kruger, Hans; Liu, Jian; Pangaud, Patrick; Peric, Ivan
1; Pohl, David-Leon; Rozanov, Alexandre; Rymaszewski, Piotr; Wermes, Norbert
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Pohl, David-Leon; Rozanov, Alexandre; Rymaszewski, Piotr; Wermes, Norbert1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5090-1642-6 KITopen-ID: 1000128053 |
| HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
| Erschienen in | IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room-Temperature Semiconductor Detector Workshop (NSS/MIC/RTSD), 2016 |
| Veranstaltung | IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room-Temperature Semiconductor Detector Workshop (NSS/MIC/RTSD 2016), Straßburg, Frankreich, 29.10.2016 – 06.11.2016 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Article no: 8069902 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |