KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Characterization of fully depleted CMOS active pixel sensors on high resistivity substrates for use in a high radiation environment

Hirono, Toko; Barbero, Marlon; Breugnon, Patrick; Godiot, Stephanie; Hemperek, Tomasz; Hugging, Fabian; Janssen, Jens; Kruger, Hans; Liu, Jian; Pangaud, Patrick; Peric, Ivan; Pohl, David-Leon; Rozanov, Alexandre; Rymaszewski, Piotr; Wermes, Norbert

Open Access Logo


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/NSSMIC.2016.8069902
Scopus
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 10.2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-1642-6
KITopen-ID: 1000128053
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room-Temperature Semiconductor Detector Workshop (NSS/MIC/RTSD), 2016
Veranstaltung IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room-Temperature Semiconductor Detector Workshop (NSS/MIC/RTSD 2016), Straßburg, Frankreich, 29.10.2016 – 06.11.2016
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Article no: 8069902
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page