Printed Machine Learning Classifiers
Mubarik, Muhammad Husnain; Weller, Dennis D.; Bleier, Nathaniel; Tomei, Matthew; Aghassi-Hagmann, Jasmin
; Tahoori, Mehdi B.; Kumar, Rakesh
; Tahoori, Mehdi B.; Kumar, Rakesh| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-7281-7384-9 KITopen-ID: 1000128133 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Erschienen in | 2020 53rd Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture (MICRO), Athens, Greece, Greece, 17-21 Oct. 2020 |
| Veranstaltung | 53rd Annual IEEE / ACM International Symposium on Microarchitecture (MICRO 2020), Athen, Griechenland, 17.10.2020 – 21.10.2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 73–87 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |