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Printed Machine Learning Classifiers

Mubarik, Muhammad Husnain; Weller, Dennis D.; Bleier, Nathaniel; Tomei, Matthew; Aghassi-Hagmann, Jasmin; Tahoori, Mehdi B.; Kumar, Rakesh



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MICRO50266.2020.00019
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 10.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-7281-7384-9
KITopen-ID: 1000128133
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erschienen in 2020 53rd Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture (MICRO), Athens, Greece, Greece, 17-21 Oct. 2020
Veranstaltung 53rd Annual IEEE / ACM International Symposium on Microarchitecture (MICRO 2020), Athen, Griechenland, 17.10.2020 – 21.10.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 73–87
Nachgewiesen in Scopus
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