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Possibilities and limitations of tomography methods for the quantification of lithium-ion battery cathode microstructures

Joos, J.; Fella, C.; Kelly, S.; Lutter, F.; Volkenandt, T.; Weber, A. ORCID iD icon; Wilde, F.; Zabler, S.; Ivers-Tiffée, E.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000128139
Veranstaltung Materials Science and Engineering Congress (MSE 2020), Online, 22.09.2020 – 25.09.2020
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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