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In Situ Monitoring of Thermally Induced Effects in Nickel-Rich Layered Oxide Cathode Materials at the Atomic Level

Pokle, Anuj; Ahmed, Shamail; Schweidler, Simon; Bianchini, Matteo; Brezesinski, Torsten; Beyer, Andreas; Janek, Jürgen; Volz, Kerstin



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1944-8244, 1944-8252
KITopen-ID: 1000128157
HGF-Programm 37.01.01 (POF III, LK 01) Fundamentals and Materials
Erschienen in ACS applied materials & interfaces
Verlag American Chemical Society (ACS)
Band 12
Heft 51
Seiten 57047–57054
Vorab online veröffentlicht am 09.12.2020
Nachgewiesen in Scopus
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