In Situ Monitoring of Thermally Induced Effects in Nickel-Rich Layered Oxide Cathode Materials at the Atomic Level
Pokle, Anuj; Ahmed, Shamail; Schweidler, Simon
1; Bianchini, Matteo 1; Brezesinski, Torsten
1; Beyer, Andreas; Janek, Jürgen 1; Volz, Kerstin
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Bianchini, Matteo 1; Brezesinski, Torsten
1; Beyer, Andreas; Janek, Jürgen 1; Volz, Kerstin1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1944-8244, 1944-8252 KITopen-ID: 1000128157 |
| HGF-Programm | 37.01.01 (POF III, LK 01) Fundamentals and Materials |
| Erschienen in | ACS applied materials & interfaces |
| Verlag | American Chemical Society (ACS) |
| Band | 12 |
| Heft | 51 |
| Seiten | 57047–57054 |
| Vorab online veröffentlicht am | 09.12.2020 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |