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High-resolution modelling of SOFC stack layers

Russner, N.; Dierickx, S.; Weber, A.; Ivers-Tiffée, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000128352
Erschienen in Proceeding of the 14th European SOFC & SOE Forum 2
Veranstaltung 14th European SOFC & SOE Forum (EFCF 2020), Online, 08.09.2020 – 13.09.2020
Bemerkung zur Veröffentlichung Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt.
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