High-resolution modelling of SOFC stack layers
Russner, N.; Dierickx, S.; Weber, A.
; Ivers-Tiffée, E.
; Ivers-Tiffée, E.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000128352 |
| Erschienen in | Proceeding of the 14th European SOFC & SOE Forum 2 |
| Veranstaltung | 14th European SOFC & SOE Forum (EFCF 2020), Online, 20.10.2020 – 23.10.2020 |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt. |