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Testing Scouting Logic-Based Computation-in-Memory Architectures

Fieback, Moritz; Nagarajan, Surya; Bishnoi, Rajendra; Tahoori, Mehdi; Taouil, Mottaqiallah; Hamdioui, Said



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS48528.2020.9131604
Scopus
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 05.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72814-312-5
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000128619
Erschienen in 2020 IEEE European Test Symposium (ETS)
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art. Nr.: 9131604
Serie Proceedings of the European Test Workshop ; 2020-May
Nachgewiesen in Scopus
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