KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Localization Microscopy – High power continuous wave lasers for super‐resolution microscopy

Klatt, Gregor; Saroglou, Konstantinos; Kobitski, Andrei; Nienhaus, G. Ulrich



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/phvs.202000006
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2626-1294, 2626-1308
KITopen-ID: 1000128663
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in PhotonicsViews
Verlag Wiley
Band 17
Heft 1
Seiten 27–31
Vorab online veröffentlicht am 02.01.2020
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page