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3D-printed optical probes for wafer-level testing of photonic integrated circuits

Trappen, Mareike; Blaicher, Matthias; Dietrich, Philipp-Immanuel; Dankwart, Colin; Xu, Yilin; Hoose, Tobias; Billah, Muhammad Rodlin; Abbasi, Amin; Baets, Roel; Troppenz, Ute; Theurer, Michael; Wörhoff, Kerstin; Seyfried, Moritz; Freude, Wolfgang; Koos, Christian

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/oe.405139
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
KITopen-ID: 1000128749
Erschienen in Optics express
Verlag Optical Society of America (OSA)
Band 28
Heft 25
Seiten 37996-38007
Vorab online veröffentlicht am 02.12.2020
Nachgewiesen in Scopus
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