KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Modeling of yield point phenomenon using multiphase field method

Kulkarni, N.; Herrmann, C.; Schoof, E.; Hoffrogge, P. ORCID iD icon; Schneider, D. ORCID iD icon; Nestler, B.; Schwab, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsdatum 11.05.2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000128805
Veranstaltung International Materials Science Winter School (2018), Karlsruhe, Deutschland, 05.11.2018
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page