A mathematical model for deep ion implantation depth profiling by synchrotron radiation grazing-incidence X-ray fluorescence spectrometry
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0267-9477, 1364-5544 KITopen-ID: 1000129131 |
| Erschienen in | Journal of analytical atomic spectrometry |
| Verlag | Royal Society of Chemistry (RSC) |
| Band | 35 |
| Heft | 12 |
| Seiten | 2964-2973 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |