High-resolution electron microscopy and X-ray diffraction characterization of alternately strained (GaAs)$_{n}$ (Gap)$_{m}$ (GaAs)$_{n}$ (InP)$_{m}$ superlattices grown by atomic layer molecular beam epitaxy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 05.1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0141-8610 KITopen-ID: 1000129333 |
| Erschienen in | Philosophical magazine <London> / A |
| Verlag | Taylor and Francis |
| Band | 69 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 871–880 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |