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Cross-sectional Kelvin probe force microscopy on Cu(In,Ga)S$_{2}$ solar cells: Influence of RbF and KF post-deposition treatment on the surface potential of the absorber layer

Seeger, Jasmin 1; Wilhelmi, Florian 1; Schundelmeier, Jonas 1; Zahedi-Azad, Setareh; Scheer, Roland; Schmidt, Kerstin; Kalt, Heinz 1; Hetterich, Michael 1,2
1 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 1000129419
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 117
Heft 24
Seiten Art.-Nr.: 243901
Nachgewiesen in Dimensions
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