Indium distribution in epitaxially grown InGaN layers analyzed by transmission electron microscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 09.2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1610-1634, 1610-1642 KITopen-ID: 1000129457 |
| Erschienen in | Physica status solidi / C |
| Verlag | Wiley |
| Band | 0 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 1668–1683 |
| Nachgewiesen in | Scopus |