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Quantitative measurement of the influence of growth interruptions on the Sb distribution of GaSb/GaAs quantum wells by transmission electron microscopy

Schowalter, M.; Rosenauer, A.; Gerthsen, D.; Grau, M.; Amann, M.-C.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.1618380
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Zitationen: 5
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Zitationen: 6
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 1000129462
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 83
Heft 15
Seiten 3123–3125
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