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Gefüge- und Topographieuntersuchungen an Mikroproben und Mikrobauteilen

Kasanická, B.; Schulze, V.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2004
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-88355-322-1
ISSN: 0343-3579
KITopen-ID: 1000129471
Erschienen in Fortschritte in der Metallographie. Ed.: G. Petzow
Veranstaltung 37. Metallographie-Tagung (2003), Berlin, Deutschland, 17.09.2003 – 19.09.2003
Seiten 451-456
Serie Praktische Metallographie ; 35
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