Near-band-gap dielectric function of thin films determined by spectroscopic ellipsometry
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1098-0121, 1550-235X KITopen-ID: 1000129478 |
| Erschienen in | Physical review / B |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 70 |
| Heft | 4 |
| Seiten | Article: 045316 |
| Vorab online veröffentlicht am | 26.07.2004 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Web of Science Dimensions |