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Near-band-gap dielectric function of thin films determined by spectroscopic ellipsometry

Kvietkova, J.; Daniel, B.; Hetterich, M.; Schubert, M.; Spemann, D.; Litvinov, D.; Gerthsen, D.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.70.045316
Scopus
Zitationen: 18
Web of Science
Zitationen: 20
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121, 1550-235X
KITopen-ID: 1000129478
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 70
Heft 4
Seiten Article: 045316
Vorab online veröffentlicht am 26.07.2004
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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